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    透射電鏡高溫力電原位系統具有優異的熱學性能!

    更新時間:2023-09-22      點擊次數:397
      透射電鏡高溫力電原位系統集成了力學測量模塊及MEMS芯片模塊,可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進行定量的力學測量。MEMS芯片模塊上可以選擇加熱芯片,也可以選擇電學測量芯片。力學測量模塊可以選擇不同載荷的傳感器,滿足不同實驗需求。實現了透射電鏡中高分辨定量原位高溫力學研究。
      本公司提供的透射電鏡高溫力電原位系統有優異的熱學性能:
      1.高精密紅外測溫校正,微米級高分辨熱場測量及校準,確保溫度的準確性。
      2.兩電極的超高頻控溫方式,排除導線和接觸電阻的影響,測量溫度和電學參數更精確。
      3.采用高穩定性貴金屬加熱絲(非陶瓷材料),既是熱導材料又是熱敏材料,其電阻與溫度有良好的線性關系,加熱區覆蓋整個觀測區域,升溫降溫速度快,熱場穩定且均勻,穩定狀態下溫度波動≤±0.1℃。
      4.采用閉合回路高頻動態控制和反饋環境溫度的控溫方式,高頻反饋控制消除誤差,控溫精度±0.01 ℃。
      5.多級復合加熱MEMS芯片設計,控制加熱過程熱擴散,極大抑制升溫過程的熱漂移,確保實驗的高效觀察。
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